島津微量分析天平的測量影響因素
傾斜的影響
島津微量分析天平測量并表示對天平垂直施加的力(質量×重力)。如果天平被傾斜放置,那么物體對天平施加的力(質量×重力)就會被分為垂直作用力與水平的作用力。
這種情況下,因為天平只能測出垂直作用力,所以顯示值會比物體本來的應有的值要小。
對流的影響
在測量溫度比周圍環(huán)境溫度要高的樣品時,在樣品的附近會有空氣對流形成的上升氣流,它會成為提起樣品的上升力,因此會使得顯示值比實際值要小。
樣品逐漸冷卻,上升氣流會減少,顯示值逐漸增大。
靜電的影響
帶電物質會因靜電作用,使得周圍的物體帶相反的電荷,電荷間的庫侖力作用會使質量計量產生誤差。因靜電會隨時間逃逸到空氣及計量器皿里,所以會產生測量值變動的現(xiàn)象。
若帶電物體靠近,周圍的物體會生成與帶電物體相反的電荷而相互吸引。
在干燥低濕度的冬季,帶電的作業(yè)員靠近天平時,也有可能會因為同樣的靜電作用,使得測量值跳動。